耐壓測(cè)試儀等相關(guān)安規(guī)測(cè)試介紹
1． 1測(cè)試的重要性
在消費(fèi)意識(shí)高漲的今天，每一個(gè)電氣和電子產(chǎn)品的制造商，必須盡zui大的能力，將產(chǎn)品的安全做好。每一種產(chǎn)品的設(shè)計(jì)必須盡其可能，不讓使用者有觸電的機(jī)會(huì)。縱然是使用者發(fā)生錯(cuò)誤也應(yīng)不會(huì)觸電。為了達(dá)到一般*的安全要求，就必須使用“耐壓測(cè)試儀”。目前安規(guī)執(zhí)行單位，例如UL CSA IEC BSI VDE TUV和JSI等都要求各制造商在設(shè)計(jì)和生產(chǎn)電子或電氣產(chǎn)品時(shí)要使用“耐壓測(cè)試儀”作安全測(cè)試。
2．2 耐壓測(cè)試
如果一個(gè)產(chǎn)品能在非常惡劣的環(huán)境下正常工作，就可以確定在正常的環(huán)境下也一定可以很正常的工作。zui常使用耐壓測(cè)試的情況為：
·設(shè)計(jì)時(shí)的功能測(cè)試——確定所設(shè)計(jì)的產(chǎn)品能達(dá)到其功能要求的條件。
·生產(chǎn)時(shí)的規(guī)格測(cè)試——確認(rèn)所生產(chǎn)的產(chǎn)品能達(dá)到其規(guī)格要求的條件。
·品保時(shí)的確認(rèn)測(cè)試——確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)能符合安規(guī)的標(biāo)準(zhǔn)。
·維修后的安全測(cè)試——確認(rèn)維修后的產(chǎn)品能維持符合安規(guī)的標(biāo)準(zhǔn)。
不同的產(chǎn)品有不同的技術(shù)規(guī)格，基本上在耐壓測(cè)試時(shí)是將一個(gè)高于正常工作的電壓加在產(chǎn)品上測(cè)試，這個(gè)電壓必須持續(xù)一段時(shí)間。如果一個(gè)零部件在規(guī)定時(shí)間內(nèi)，其漏電流也保持在規(guī)定的范圍內(nèi)就可以確定這個(gè)零部件在正常的條件下工作，應(yīng)該是非常安全的。而優(yōu)良的設(shè)計(jì)和選擇良好的絕緣材料可以保證用戶(hù)免于觸電。
本儀器所做的耐壓測(cè)試，一般稱(chēng)之為“高電壓介電測(cè)試”，簡(jiǎn)稱(chēng)為“耐壓測(cè)試”。基本的規(guī)定是2×待測(cè)物的工作電壓+1000V，作為測(cè)試的電壓標(biāo)準(zhǔn)。有些產(chǎn)品的測(cè)試電壓可能高于2×工作電壓+1000V。例如有些產(chǎn)品的工作電壓范圍是從100V到240V，這類(lèi)產(chǎn)品的測(cè)試電壓可能在1000V到4000V之間或更高。一般而言，具有“雙絕緣”設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，其使用的測(cè)試電壓可能高于2×工作電壓+1000V的標(biāo)準(zhǔn)。
耐壓測(cè)試在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和樣品制作時(shí)比正式生產(chǎn)時(shí)的測(cè)試更為精密，因?yàn)楫a(chǎn)品在設(shè)計(jì)測(cè)試階段便已決定產(chǎn)品的安全性。雖然在產(chǎn)品設(shè)計(jì)時(shí)只是用少數(shù)樣品來(lái)作判斷，然而生產(chǎn)時(shí)的線(xiàn)上測(cè)試更應(yīng)嚴(yán)格要求所有的產(chǎn)品都必須能通過(guò)安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，可以確認(rèn)沒(méi)有次品會(huì)流出生產(chǎn)線(xiàn)。
耐壓測(cè)試儀的輸出電壓必須保持在規(guī)定電壓的100%到120%的范圍內(nèi)。AC耐壓測(cè)試儀的輸出頻率必須維持在40到70Hz之間，同時(shí)其波峰值不得低于均方根（RMS）電壓值的1.3倍，并且其波峰值不得高于均方根（RMS）電壓值的1.5倍。
2．3交流（AC）測(cè)試和直流（DC）測(cè)試的優(yōu)缺點(diǎn)
請(qǐng)先與被測(cè)試產(chǎn)品所的安規(guī)單位確認(rèn)該產(chǎn)品應(yīng)該使用何種電壓，有些產(chǎn)品可以同時(shí)接受直流和交流兩種測(cè)試選擇，但是仍然有多種產(chǎn)品只允許接受直流或交流中的一種測(cè)試。如果安規(guī)規(guī)范允許同時(shí)接受直流或交流測(cè)試，制造商就可以自己決定哪種測(cè)試較適用于自己的產(chǎn)品。為了達(dá)成此目的，使用者必須了解直流和交流測(cè)試的優(yōu)缺點(diǎn)。
2．3．1交流耐壓（ACW）測(cè)試的特點(diǎn)
大部分做耐壓測(cè)試的待測(cè)物都會(huì)含有一些雜散電容。用交流測(cè)試時(shí)可能無(wú)法充滿(mǎn)這些雜散電容，會(huì)有一個(gè)持續(xù)電流流過(guò)這些電容。
2.3.1.1交流耐壓（ACW）測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)
1.一般而言，交流測(cè)試比直流測(cè)試更容易被安規(guī)單位接受。主因是大部分的產(chǎn)品都使用交流電，而交流測(cè)試可以同時(shí)對(duì)產(chǎn)品作正負(fù)極性的測(cè)試，與產(chǎn)品使用的環(huán)境*一致，合乎實(shí)際使用狀況。
2.由于交流測(cè)試時(shí)無(wú)法充飽那些雜散電容，但不會(huì)有瞬間沖擊電流發(fā)生，因此不需要讓測(cè)試電壓緩慢上升，可以一開(kāi)始測(cè)試就全電壓加上，除非這種產(chǎn)品對(duì)沖擊電壓很敏感。
3.由于交流測(cè)試無(wú)法充滿(mǎn)那些雜散電容，在測(cè)試后不必對(duì)測(cè)試物作放電的動(dòng)作，這是另外一個(gè)優(yōu)點(diǎn)。
2.3.1.2交流（AC）測(cè)試的缺點(diǎn)
1.主要的缺點(diǎn)為，如果待測(cè)物的雜散電容量很大或待測(cè)物為電容性負(fù)載時(shí)，這樣所產(chǎn)生的電流會(huì)遠(yuǎn)大于實(shí)際的漏電電流，因而無(wú)法得知實(shí)際的漏電電流。
2.另外一個(gè)缺點(diǎn)是由于必須供應(yīng)待測(cè)物的雜散電容所需的電流，儀器所需輸出的電流會(huì)比采用直流測(cè)試時(shí)的電流大很多。這樣會(huì)增加操作人員的危險(xiǎn)性。
2.3. 2直流（DC）測(cè)試的特點(diǎn)
在直流耐壓測(cè)試時(shí)，待測(cè)物上的雜散電容被充滿(mǎn)，直流耐壓測(cè)試時(shí)所造成的容性電流，在雜散電容被充滿(mǎn)后，會(huì)下降到零。
2.3.2.1直流（DC）測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)
1.一旦待測(cè)物上雜散電容被充滿(mǎn)，只會(huì)剩下待測(cè)物實(shí)際的漏電電流。直流耐壓測(cè)試可以很清楚的顯示出待測(cè)物實(shí)際的漏電電流。
2.另外一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是由于僅需在短時(shí)間內(nèi)，供應(yīng)待測(cè)物的充電電流，其它時(shí)間所需供的電流非常小，所以?xún)x器的電流容量遠(yuǎn)低于交流耐壓測(cè)試時(shí)所需的電流容量。
2.3.2.2直流（DC）測(cè)試的缺點(diǎn)
1.除非待測(cè)物上沒(méi)有任何電容量存在，否則測(cè)試電壓必須由“零”開(kāi)始，緩慢上升，以避免充電電流過(guò)大，電容量越大所需的緩升時(shí)間越長(zhǎng)，一次所能增加的電壓也越低。充電電流過(guò)大時(shí)，一定會(huì)引起測(cè)試器的誤判，使測(cè)試的結(jié)果不正確。
2.由于直流耐壓測(cè)試會(huì)對(duì)待測(cè)物充電，所以在測(cè)試后，一定要先對(duì)待測(cè)物放電，才能做下一步工作。
3.與交流測(cè)試不一樣，直流耐壓測(cè)試只能單一極性測(cè)試，如果產(chǎn)品要使用于交流電壓下，這個(gè)缺點(diǎn)必須考慮。這也是大多數(shù)安規(guī)單位都建議使用交流耐壓測(cè)試的原因。
4.在交流測(cè)試時(shí)，電壓的波峰值是電表顯示的1.4倍，這一點(diǎn)是一般電表所不能顯示的，也是直流耐壓所無(wú)法達(dá)到的。所以多數(shù)安規(guī)單位都要求，如果使用直流耐壓測(cè)試，必須提高測(cè)試電壓到相等的數(shù)值。
2.4只有耐壓測(cè)試能檢測(cè)出下列狀況
·絕緣材料的絕緣強(qiáng)度太弱
·絕緣體上有針孔
·零組件之間的距離不夠
·絕緣體被擠壓而破裂
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